半导体分立器件

整流器件

Mosfet

小信号

保护器件

整流桥,整流二极管,快恢复二极管,超高效整流二极管,超快恢复二极管,肖特基二极管,光伏二极管,焊接二极管

MOS

小信号开关二极管,小信号稳压二极管,小信号肖特基二极管,小信号三极管,小信号功率三极管,小信号数字晶体管

瞬态抑制二极管,静电二极管 ,放电管,稳压二极管

IGBT

SIC

模块

IGBT单管,IGBT模块,IGBT汽车电子

SIC肖特基二极管,SIC Mosfet,SIC汽车电子,SIC模块

整流模块,快恢复模特,肖特基模块,晶闸管模块,晶闸管混合模块,快速/相控晶闸管模块




 半导体集成电路

集成高精度ADC SOC

LDO系列产品

放大器

通用光电耦合器

电平转换器 

1.高精度ADC

2.高精度SAR ADC

3集成ECG/EEG AFE

1.模块电路

2.高精度基准源

3.BUCK

4.电流功率监视器

5.复位电路

1.高速光电耦合器

2.数字隔离器

3.隔离收发器

1.旋变数字转换器

2.驱动器,接收器

3.RS422/485收发器

4.RS232收发器

5.CAN收发器

1.比较器

2.模拟开关

3.MOS驱动器

4.驱动器

5.低压降稳压器

6.LIN接口

7.温度传感器

8.EEPROM存储器

9.DDR3/DDR3L存储器

10.EMMC存储器

SIC

1.SIC MOSFET

2.IGBT 单管

3.IGBT模块

微波功率器件

1.终端射频开关

2.天线调谐器

3.WLCSP

微波射频器件

1.标准功率管

2.混合集成电路

3.微波模块及组件

4.高线性功率发大器

5.电源模块

6.无源电路

元器件测试设备

S1000 Soc测试系统,最高支持1024数字通道;

数字通道最高支持400MHz, 128M向量深度;

支持时间测量单元,支持存储器测试选项;

4象限的电源通道,支持+/-12V的电压范围;

AWG/DGT混合信号测试,支持24bit高精度及16bit高速模式;

广泛应用于SoC芯片的开发验证,及量产测试环节。

存储器测试设备

存储器测试设备,有针对FLASH芯片的M2000系列,以及针对DRAM的M3000系列。

M2000系列广泛应用于Nor Flash,Nand Flash, E2PROM, SRAM等存储芯片的验证,筛选,以及量产测试。

M3000系列广泛应用于LPDDR,DDR的IC验证,筛选,以及量产测试,可以完成存储器芯片的参数测试,功能测试,和RA分析修复。

管壳

提供CSOP CFP CLCC CDIP MCM CQFP SMD等封装外壳及高可靠性多芯片模组封装结构和定制化的集成封装外壳产品

封装设备

CP测试

划片

芯片分选

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